赛默飞（原FEI）的Scios 2 DualBeam扫描电镜是一款高性能的双束显微镜，适用于磁性和非导电材料的三维表征
高分辨率成像：Scios 2 DualBeam采用Thermo Scientific NICol™电子镜筒，能够在最佳工作距离下实现STEM 0.8 nm的分辨率，同时支持多种样品类型的成像需求。
样品制备与导航：配备Sidewinder HT离子镜筒，可以快速、简便地制备高质量的TEM和原子探针样品。内置的Nav-Cam™相机和灵活的110 mm样品台实现精确的样品导航。
自动化与灵活性：可选ASV4软件支持自动化采集连续切片图像、EDS或EBSD图像，并实现三维重构。此外，DCFI漂移校正技术和SmartScan模式确保无伪影成像和精确的图形加工。
探测器系统：设备配备多种探测器，包括二次电子探测器ETD、背散射电子探测器T1、T2和T3（选配），以及IR-CCD红外相机和高性能离子转换电子探测器ICE，能够同步检测多达四种信号。
应用领域：Scios 2 DualBeam特别适用于需要高通量亚表面和3D表征的应用场景，如半导体分析、材料科学和纳米技术研究。
Scios 2 DualBeam是一款功能强大且灵活的扫描电镜，能够满足学术、政府和工业研究领
